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Si4313-B1
Table 5. Digital IO Specifications (SDO, SDI, SCLK, nSEL, and nIRQ) 1
Parameter
Rise Time 2
Fall Time 2
Input Capacitance 2
Logic High Level
Input Voltage 2
Logic Low Level
Input Voltage 2
Input Current 2
Logic High Level
Output Voltage 2
Logic Low Level
Output Voltage 2
Symbol
T RISE
T FALL
C IN
V IH
V IL
I IN
V OH
V OL
Conditions
0.1 x V DD to 0.9 x V DD , C L = 5 pF
0.9 x V DD to 0.1 x V DD, C L = 5 pF
0<V IN < V DD
I OH <1 mA source, V DD = 1.8 V
I OL <1 mA sink, V DD = 1.8 V
Min
—
—
—
V DD –0.6
—
–100
V DD –0.6
—
Typ
—
—
—
—
—
—
—
—
Max
8
8
1
—
0.6
100
—
0.6
Units
ns
ns
pF
V
V
nA
V
V
Notes:
1. All specification guaranteed by production test unless otherwise noted. Production test conditions and max limits are
listed in "1.1.1. Production Test Conditions" on page 14.
2. Guaranteed by qualification. Qualification test conditions are listed in "1.1.1. Production Test Conditions" on page 14.
Rev. 1.0
11
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